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測試過程overflow
出現overflow一般為靈敏度設置過高,可以適當降低靈敏度(數值調大)。通??梢詫㈧`敏度設置為和測試電流同樣的數量級或高一個數量級。更改靈敏度無效可能是測試電流超出儀器量程、硬件測試出錯。
創建時間:
2016-05-20
05:55
ꄴ
前一個:
坐標方向、氧化還原峰顛倒
ꄲ
后一個:
使用內部模擬電解池測試
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